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    四探針測試儀 便攜式四探針分析儀 高精度四探針測試儀

    • 簡單描述
    • 該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    • 產(chǎn)品型號:  DL10-RTS-3
    • 更新時間:  2025-12-06
    • 訪問次數(shù):  3042
    詳細介紹

    四探針測試儀 便攜式四探針檢測儀 高精度四探針測試儀          

    型號:DL10-RTS-3

    測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計;

    體積僅為:185mm()*90mm()*30mm( 重量:350g

    使用鋰電池供電,一次充電可連續(xù)使用100小時;

    RTS-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

    儀器采用了電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。

    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。

    技 術(shù) 指 標

    測量范圍 電阻率:0.011999.9Ω.cm

    方塊電阻:0.119999Ω/□;

    恒流源 電流量程分為100μA1mA兩檔,兩檔電流連續(xù)可調(diào)

    數(shù)字電壓表 量程及表示形式:000.00199.99mV 分辨力:10μV

    輸入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1%

    顯示:以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;極性、超量程自動顯示;

    四探針探頭基本指標 間距:1±0.01mm 針間絕緣電阻:≥1000MΩ; 機械游移率:≤0.3%

    探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm 探針壓力:516 牛頓總力

    四探針探頭應(yīng)用參數(shù)見探頭附帶的合格證

    模擬電阻測量相對誤差

    JJG508-87進行) 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1

    整機測量zui大相對誤差用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試≤±5%

    整機測量標準不確定度 5%

    外型尺寸 185mm()*90mm()*30mm(

    重量 350g

    電源 鋰電池,一次充電可連續(xù)使用100小時;

    標準使用環(huán)境 溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65% 無高頻干擾; 無強光直射;

    北京北信科儀分析儀器有限公司

    地址:北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

    :李

     

    http://www.bxequ.com


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